オプトショップ共用光学測定器 一覧

Zygo GPI
レーザー干渉計
レンズ,鏡面の精度測定,基準面からの位相差を測定
視野 : 直径100mm以下
光源 : He-Ne(632.8nm)
所有レンズ : 平面レンズ,球面レンズF0.75,F1.5,F3.3,F7.2, F11
WYKO NT1100
レーザー干渉計
測定方式 :位相シフト干渉方式,垂直走査型干渉方式
測定能力 :視野 非接触式3次元表面形状粗さ測定
対物レンズ:2.5x,10x,50x
内部レンズ:0.5x,1.0x, 2.0x
測定画素 :736x380
光源   :タングステン・ハロゲンランプ+光学フィルター(手動切替)
資料ステージ:100mm手動型ステージ
縦方向測定レンジ:0.1nm-1mm
縦方向分解能  : < 0.1nm Ra
スキャンスピード:7.2マイクロメートル/秒以上
横方向サンプリング間隔:0.08-13.1マイクロメートル
測定範囲:8.24mm-0.05mm
資料の反射率:1-100% まで測定可能
Mitsutoyo Crysta-Plus
3次元座標測定器
測定範囲 : 500(x)×400(y)×400(z) mm
指示誤差 : (3.5+4.5L/1000) μm (L:任意測定長[mm])
プロービング精度 : 4μm
Mitsutoyo LEGEX910
CNC3次元座標測定器
測定範囲 : 900(x)×1000(y)×600(z) mm
指示誤差 : (0.35+L/1000) μm (L:任意測定長[mm])
※LEGEX910は,センターの職員が操作を行います。別途ご相談ください。
三鷹光器 NH3-SP
非接触3次元座標測定器
測定範囲 : 150(x)×150(y)×120(z) mm
指示誤差 : (0.1+0.3L/10) μm (L:任意測定長[mm])
測定原理
仕様
※一度センターの職員の指導受けてから使用してください。
UV-3100PC
分光光度計
波長範囲 : 190 〜 3200 nm
分解 : 0.1 nm
光源 : 重水素ランプ,ハロゲンランプ
回折格子により測定波長を可変
検出器 : フォトマル,Pbsセル
検出部の大きさ : 2×16 mm
SolidSpec 370
分光光度計
測定波長範囲:240〜2600nm
分解:0.1nm
光源:50Wハロゲンランプ 重水素ランプ
検出器:PMT(R928相当) InGaAs−PD
資料室内寸法:900(W)×700(D)×350(H)
FTIR 410
フーリエ変換赤外分光光度計
測定波数範囲:7800〜400cm−1
光源:セラミック特殊光源
検出器:DLAGS
資料室:175(W)×255(D)×170(H)
光路:センターフォーカス 光軸高さ70mm
Nikon顕微鏡MM-40
上下移動量 150mm
微動テーブル付き
画像取り込み可能
Keyence VR-3200
ワンショット3Dマイクロスコープ
測定範囲:対角30 - 224mm
広視野モード & 高倍率モード
測定可能高さ:10mm (広視野モード : ±5mm, l高倍率モード : ±0.5mm )
画像取り込み可能
その他
移動可能な測定器,基準器
  • FISBA社製干渉計(平面測定時時D=100mm,台内移動可能)
  • Keyence社製顕微鏡(画像取り込み可)
  • セラミックスブロックゲージ(<150mm)
  • ガラススケール:(50mm ピッチ0.1mm),(250mm ピッチ1mm)
  • ノギス:(300mm長,100mm幅)
  • マイクロメータ (測定範囲0〜150mm)
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